資料紹介

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目的

既知試料MnOに関してX線分析を行い、その手法と解析法を学ぶ。その後、未知試料に対して、X線分析を行い、未知試料の同定を行う。
原理

-ラウエの回折条件1)-

同じ原子が等間隔αで並んでいる点列に、波長λのX線が点列に対してα0の角度で入射して、α方向で回折線が観測されたとすると、点列上の各原子からの散乱線が強まるためには。散乱X線の行路差が波長λの整数でなければならないので次式が成り立つ。

①

ここで、hは0を含む正または負の整数であり。回折の次数という。

点列中の原子数が十分多ければ、①式の条件を満足する方向に強い回折が生じ、その方向からわずかにずれただけで回折強度が急激に減少する。

　さて、これまでの考えを三次元空間に適用するため、三次元の空間格子の各格子点に同じ原子が存在する場合について考える。

　入射X線と散乱X線の方向が空間格子のa,b,c軸となす角をα0 ,β0 ,γ0およびα,β ,γとすると、各格子点からの散乱X線が強め合う条件として次式が成り立つ。
これを、ラウエの条件と呼び、h,k,lは回折の次数である。

-ブラッグの条件-

ブラッグの...

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